小負荷維氏硬度計

作(zuo)者：濟南中創試驗機(ji) 時間：2019-06-26 10:15 瀏覽：次

主要特點：
砝(fa)碼(ma)直接加(jia)荷，試驗力精(jing)度高(gao)；
高精度光學測量系統；
可選配CCD圖(tu)像處理系統(tong)；
試驗力(li)覆蓋顯微及(ji)維氏試驗要求；
試驗過程(cheng)自動(dong)化，無人為操作誤差；
配備精密坐標試臺(tai)；
精度符合GB/T4340.2 ISO6507-2和美國ASTM E92.
應用范圍：
滲(shen)氮層、陶瓷、鋼、有色金屬；
薄板、金屬薄片、電鍍(du)層、微小試件；
碳化層、脫(tuo)碳層和淬火(huo)硬化層的深(shen)度測量；
適(shi)用于平行平面(mian)和微(wei)小(xiao)零件及超薄零件的精密(mi)維(wei)氏測(ce)量。
小負荷維氏硬度計

主要技術規格(ge)：
測量范圍 5—3000HV
試驗力   1.961、2.942、4.903、9.807、19.61、24.52、29.42、49.03牛頓
       （0.2、0.3、0.5、1、2、2.5、3、5公斤(jin)力）
試樣允許比(bi)較大(da)高度 130mm
壓頭中心至(zhi)機壁(bi)距離 110mm
座標試臺尺寸：100*100mm
座(zuo)標試臺行(xing)程：25*25mm
測量系統放大倍(bei)率 400倍(bei)，100倍(bei)
比(bi)較(jiao)小檢測單位 0.25微(wei)米
電源交(jiao)流220伏，50/60赫茲(zi)
外(wai)形尺(chi)寸(cun) 486*337*657mm
重量    約68千克
標(biao)準配備：
座標試(shi)臺(tai)(tai)：1個(ge)(ge)    細(xi)軸(zhou)試(shi)臺(tai)(tai)：1個(ge)(ge)    薄板試(shi)臺(tai)(tai)：1個(ge)(ge)    平口(kou)鉗：1個(ge)(ge)
大V形塊(kuai)：1個(ge)  小(xiao)V型(xing)塊(kuai)：1個(ge)    金剛石(shi)角錐壓頭：1只
標準(zhun)維(wei)氏(shi)硬度(du)塊：2塊    標準(zhun)顯微(wei)硬度(du)塊：1塊    電子計算(suan)器：1個

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